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Base de Datos: 29/08/2025
Hecho en Colombia
XPS analysis and structural and morphological characterization of Cu2ZnSnS4 thin films grown by sequential evaporation
Acceso Cerrado
Idioma: Inglés
Publicado: 27/03/2014
APC (est):
No disponible
Gerardo Brianza
Clara Lilia Calderón Triana
José Pascual Bartolo Pérez
Gerardo Gordillo Guzmán
JSON
HTML
BibTeX
Abstract:
Abstract no disponible
Tópico:
Chalcogenide Semiconductor Thin Films
Citaciones:
68
Citaciones por año:
Altmétricas:
0
Información de la Fuente:
Fuente
Applied Surface Science
Cuartil año de publicación
No disponible
Volumen
305
Issue
No disponible
Páginas
506 - 514
pISSN
No disponible
ISSN
0169-4332
Perfil OpenAlex
https://openalex.org/S42323631
Enlaces e Identificadores:
Openalex URL
https://openalex.org/W2005595108
Scholar URL
https://scholar.google.com/scholar?hl=en&as_sdt=0%2C5&q=info%3AjW8Epv87d-UJ%3Ascholar.google.com&btnG=
Doi URL
https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2014.03.124
Scholar citations URL
https://scholar.google.com/scholar?cites=16534750526102073229&as_sdt=2005&sciodt=0,5&hl=en
Artículo de revista
