Autor
Cargando información...
Fundadores:
Producto desarrollado por:
@colav
Contacto
ImpactU:
Acerca de ImpactU
Manual de usuario
Código Abierto
Datos Abiertos
Apidocs
Estadísticas de uso
Indicadores de Cooperación
Información:
ImpactU Versión 3.11.2
Última actualización:
Interfaz de Usuario: 16/10/2025
Base de Datos: 29/08/2025
Hecho en Colombia
Interferometric Measurement of Thickness and Refraction Index on Transparent Thin Films
Acceso Cerrado
Idioma: Inglés
Publicado: 01/01/2010
APC (est):
No disponible
Carlos Andres Vargas Alzate
Edwin Tangarife
JSON
HTML
BibTeX
Abstract:
A Mach-Zenhder interferometer is proposed with a thin film on one of its arms, the sample can be rotated, measuring the pattern fringes for each incidence angle, sample thickness and refraction index are calculated.
Tópico:
Optical measurement and interference techniques
Citaciones:
1
Citaciones por año:
Altmétricas:
0
Información de la Fuente:
Fuente
No disponible
Cuartil año de publicación
No disponible
Volumen
No disponible
Issue
No disponible
Páginas
JWA62 - JWA62
pISSN
No disponible
ISSN
No disponible
Perfil OpenAlex
No disponible
Enlaces e Identificadores:
Scienti ID
0000346209-7
Scholar URL
https://scholar.google.com/scholar?hl=en&as_sdt=0%2C5&q=info%3AK778VDKu69sJ%3Ascholar.google.com&btnG=
Openalex URL
https://openalex.org/W2003155385
Doi URL
https://doi.org/10.1364/fio.2010.jwa62
Pdf URL
https://opg.optica.org/viewmedia.cfm?uri=FiO-2010-JWA62&seq=0
Scienti URL
http://www.opticsinfobase.org/abstract.cfm?uri=FiO-2010-JWA62
Resultado de conferencia
