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Interferometric Measurement of Thickness and Refraction Index on Transparent Thin Films

Acceso Cerrado
Idioma: Inglés
Publicado: 01/01/2010
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Abstract:

A Mach-Zenhder interferometer is proposed with a thin film on one of its arms, the sample can be rotated, measuring the pattern fringes for each incidence angle, sample thickness and refraction index are calculated.

Tópico:

Optical measurement and interference techniques

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Scienti ID0000346209-7Pdf URLhttps://opg.optica.org/viewmedia.cfm?uri=FiO-2010-JWA62&seq=0Scholar URLhttps://scholar.google.com/scholar?hl=en&as_sdt=0%2C5&q=info%3AK778VDKu69sJ%3Ascholar.google.com&btnG=
Scienti URLhttp://www.opticsinfobase.org/abstract.cfm?uri=FiO-2010-JWA62Openalex URLhttps://openalex.org/W2003155385Doi URLhttps://doi.org/10.1364/fio.2010.jwa62
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