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Base de Datos: 29/08/2025
Hecho en Colombia
Structural characterization of thin films based on II–VI ternary compounds deposited by evaporation
Acceso Cerrado
Idioma: Inglés
Publicado: 24/04/2005
APC (est):
No disponible
Gerardo Brianza
Edgar Eduardo Romero Castro
Gerardo Gordillo Guzmán
Eduard Ricardo Romero Malagón
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HTML
BibTeX
Abstract:
Abstract no disponible
Tópico:
Chalcogenide Semiconductor Thin Films
Citaciones:
18
Citaciones por año:
Altmétricas:
0
Información de la Fuente:
Fuente
Thin Solid Films
Cuartil año de publicación
No disponible
Volumen
484
Issue
1-2
Páginas
352 - 357
pISSN
No disponible
ISSN
0040-6090
Perfil OpenAlex
https://openalex.org/S84339699
Enlaces e Identificadores:
Scholar URL
https://scholar.google.com/scholar?hl=en&as_sdt=0%2C5&q=info%3AkdIslE-ynZkJ%3Ascholar.google.com&btnG=
Scholar citations URL
https://scholar.google.com/scholar?cites=11069199514004673169&as_sdt=2005&sciodt=0,5&hl=en
Openalex URL
https://openalex.org/W1988077659
Doi URL
https://doi.org/10.1016/j.tsf.2005.02.021
Artículo de revista
