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Raman scattering and X-ray diffraction study in Cu2GeSe3

Acceso Cerrado

Idioma: Inglés

Publicado: 28/01/2008

APC (est): No disponible

Abstract no disponible

Chalcogenide Semiconductor Thin Films

FuenteSolid State Communications	Cuartil año de publicaciónNo disponible	Volumen146
Issue1-2	Páginas65 - 68	pISSNNo disponible
ISSN0038-1098	Perfil OpenAlexhttps://openalex.org/S82088436

Openalex URL	https://openalex.org/W1981702003	Doi URL	https://doi.org/10.1016/j.ssc.2008.01.018

Artículo de revista