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Base de Datos: 29/08/2025
Hecho en Colombia
Microcharacterization of Conformal GaAs on Si Layers by Spatially Resolved Optical Techniques
Acceso Cerrado
Idioma: Inglés
Publicado: 01/01/2002
APC (est):
No disponible
Oscar Martínez
Manuel Avella
Angel Miguel Ardila Vargas
Juan Jimenez
B Gerad
E Gil Lafon
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Abstract:
Abstract no disponible
Tópico:
Semiconductor Quantum Structures and Devices
Citaciones:
0
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0
Información de la Fuente:
Fuente
Lecture notes in physics
Cuartil año de publicación
No disponible
Volumen
No disponible
Issue
No disponible
Páginas
74 - 81
pISSN
No disponible
ISSN
0075-8450
Perfil OpenAlex
https://openalex.org/S182449769
Enlaces e Identificadores:
Doi URL
https://doi.org/10.1007/3-540-45850-6_7
Openalex URL
https://openalex.org/W1625070721
Scholar URL
https://scholar.google.com/scholar?hl=en&as_sdt=0%2C5&q=info%3AyPPWv6-sVdQJ%3Ascholar.google.com&btnG=
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