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A Non-homogeneous Thin Film Model and the Evaluation of Its Properties by Ellipsometric Methods

Acceso Cerrado
Idioma: Inglés
Publicado: 01/01/1992
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Tópico:

Optical measurement and interference techniques

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FuenteSpringer proceedings in physics
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Páginas301 - 303
pISSNNo disponible
ISSN1867-4941
Perfil OpenAlexhttps://openalex.org/S4210168317

Enlaces e Identificadores:

Openalex URLhttps://openalex.org/W1043597497Doi URLhttps://doi.org/10.1007/978-3-642-76376-2_43
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