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A Non-homogeneous Thin Film Model and the Evaluation of Its Properties by Ellipsometric Methods

Acceso Cerrado

Idioma: Inglés

Publicado: 01/01/1992

APC (est): No disponible

Abstract no disponible

Optical measurement and interference techniques

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FuenteSpringer proceedings in physics	Cuartil año de publicaciónNo disponible	VolumenNo disponible
IssueNo disponible	Páginas301 - 303	pISSNNo disponible
ISSN1867-4941	Perfil OpenAlexhttps://openalex.org/S4210168317

Openalex URL	https://openalex.org/W1043597497	Doi URL	https://doi.org/10.1007/978-3-642-76376-2_43

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