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Ariel Gómez
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Surface charge estimation on hemispherical dielectric samples from EFM force gradient measurements
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Acceso Cerrado
ID Minciencias: ART-0000291455-209
Ranking: ART-ART_A2
Fuente: Journal of Electrostatics
Ariel Gómez
Alba Graciela Avila Bernal
Juan P Hinestroza
Tópico:
Force Microscopy Techniques and Applications
Publicado: 2009
Citaciones:
7
Altmétricas:
0
Artículo de revista
Electrostatic tip-dielectric sample interaction in electrostatic force microscopy
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Acceso Abierto
ID Minciencias: ART-0000291455-210
Ranking: ART-ART_C
Fuente: Revista Facultad de Ingeniería Universidad de Antioquia
Ariel Gómez
Alba Graciela Avila Bernal
Gergory Ibrahim Massy
Tópico:
Force Microscopy Techniques and Applications
Publicado: 2013
Citaciones:
1
Altmétricas:
0
Artículo de revista
Interacción punta-muestra dieléctrica en microscopía de fuerza electrostática
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Acceso Cerrado
ID Minciencias: ART-0000291455-199
Ranking: ART-ART_C
Fuente: DOAJ (DOAJ: Directory of Open Access Journals)
Ariel Gómez
Alba Graciela Avila Bernal
Gergory Ibrahim Massy
Tópico:
Force Microscopy Techniques and Applications
Publicado: 2009
Citaciones:
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Artículo de revista
1
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