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Ariel Gómez
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Surface charge estimation on hemispherical dielectric samples from EFM force gradient measurements
Acceso Cerrado
ART-ART_A2
ID Minciencias: ART-0000291455-209
Fuente: Journal of Electrostatics
Ariel Gómez
Alba Graciela Avila Bernal
Juan P Hinestroza
Temas:
Electrostatic force microscope
Conical surface
Dielectric
Surface charge
Voltage
Surface (topology)
Materials science
Charge density
Mechanics
Optics
Chemistry
Physics
Nanotechnology
Atomic force microscopy
Optoelectronics
Mathematics
Composite material
Geometry
Quantum mechanics
Physical chemistry
Publicado: 2009
Citaciones:
7
Altmétricas:
0
Artículo de revista
Electrostatic tip-dielectric sample interaction in electrostatic force microscopy
Acceso Abierto
ART-ART_C
ID Minciencias: ART-0000291455-210
Fuente: Revista Facultad de Ingeniería Universidad de Antioquia
Ariel Gómez
Alba Graciela Avila Bernal
Gergory Ibrahim Massy
Temas:
Electrostatic force microscope
Dielectric
Materials science
Microscopy
Electrostatics
Sample (material)
Electrostatic interaction
Condensed matter physics
Atomic force microscopy
Optics
Molecular physics
Nanotechnology
Chemical physics
Chemistry
Physics
Optoelectronics
Thermodynamics
Quantum mechanics
Publicado: 2013
Citaciones:
1
Altmétricas:
0
Artículo de revista
Interacción punta-muestra dieléctrica en microscopía de fuerza electrostática
Acceso Cerrado
ART-ART_C
ID Minciencias: ART-0000291455-199
Fuente: DOAJ (DOAJ: Directory of Open Access Journals)
Ariel Gómez
Alba Graciela Avila Bernal
Gergory Ibrahim Massy
Temas:
Electrostatic force microscope
Dielectric
Charge (physics)
Cantilever
Materials science
Charge density
Condensed matter physics
Analytical Chemistry (journal)
Physics
Optoelectronics
Composite material
Chemistry
Quantum mechanics
Chromatography
Publicado: 2009
Citaciones:
0
Artículo de revista
1
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