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M C Muoz
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X-Ray Diffraction (XRD), Differential Thermal Analysis (DTA), and Scanning Electron Microscopy (SEM) of (CuInSe2)1?x (VSe)x Alloys (0 ?x ? 0.5)
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Fuente: physica status solidi (a)
P Grima Gallardo
S Dur�n
Marja Johana López Quintero
M C Muoz
Gerzon Eusebio Delgado Arciniegas
J M Brice�o
H Romero
Javier Mas Ruiz
Tópico:
Chalcogenide Semiconductor Thin Films
Publicado: 2002
Citaciones:
8
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0
Artículo de revista
1
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