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Hecho en Colombia
S A Orjuela
Universidad Antonio Nariño
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Video surveillance for monitoring driver's fatigue and distraction
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Acceso Abierto
ID Minciencias: ART-0000415758-131
Ranking: ART-ART_D
Fuente: Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering/Proceedings of SPIE
Robinson Jimenez Moreno
S A Orjuela
Peter Van Hese
Flavio Prieto
Victor Hugo Grisales Palacio
Wilfried Philips
Sergio Alejandro Orjuela Vargas
Tópico:
Sleep and Work-Related Fatigue
Publicado: 2012
Citaciones:
10
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0
Artículo de revista
Improving textures discrimination in the local binary patterns technique by using symmetry & group theory
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Acceso Cerrado
ID Minciencias: CAP_LIB-0000415758-42
Ranking: CAP_LIB-GC_CAP_LIB
S A Orjuela
Rolando Quiñones
Benhur Ortiz Jaramillo
Filip Rooms
Robain De Keyser
Wilfried Philips
Sergio Alejandro Orjuela Vargas
Tópico:
Industrial Vision Systems and Defect Detection
Publicado: 2011
Citaciones:
9
Altmétricas:
0
Capítulo de libro
Automated wear label assessment in carpets by using local binary pattern statistics on depth and intensity images
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Acceso Cerrado
ID Minciencias: CAP_LIB-0000415758-40
Ranking: CAP_LIB-GC_CAP_LIB
Fuente: IEEE ANDESCON
S A Orjuela
Filip Rooms
Wilfried Philips
Simon De Meulemeester
Robain De Keyser
Sergio Alejandro Orjuela Vargas
Tópico:
Industrial Vision Systems and Defect Detection
Publicado: 2010
Citaciones:
4
Altmétricas:
0
Capítulo de libro
A comparison between intensity and depth images for extracting features related to wear labels in carpets
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Acceso Cerrado
ID Minciencias: ART-0000415758-115
Ranking: ART-GC_ART
Fuente: Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering/Proceedings of SPIE
S A Orjuela
Ewout Vansteenkiste
Filip Rooms
Simon De Meulemeester
Robain De Keyser
Wilfried Philips
Sergio Alejandro Orjuela Vargas
Tópico:
Industrial Vision Systems and Defect Detection
Publicado: 2010
Citaciones:
4
Altmétricas:
0
Publicaciones editoriales no especializadas
Quantifying Appearance Retention in Carpets Using Geometrical Local Binary Patterns
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Acceso Cerrado
ID Minciencias: ART-0000415758-43
Ranking: ART-ART_B
Fuente: Lecture notes in computer science
Rolando Quiñones
S A Orjuela
Benhur Ortiz Jaramillo
lieva van langenhove
Wilfried Philips
Sergio Alejandro Orjuela Vargas
Tópico:
Industrial Vision Systems and Defect Detection
Publicado: 2011
Citaciones:
4
Altmétricas:
0
Artículo de revista
Analysing wear in carpets by detecting varying local binary patterns
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Acceso Abierto
ID Minciencias: ART-0000415758-125
Ranking: ART-ART_D
Fuente: Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering/Proceedings of SPIE
S A Orjuela
Ewout Vansteenkiste
Filip Rooms
Simon De Meulemeester
Robain De Keyser
Wilfried Philips
Sergio Alejandro Orjuela Vargas
Tópico:
Textile materials and evaluations
Publicado: 2011
Citaciones:
3
Altmétricas:
0
Artículo de revista
Fabric defect detection using the wavelet transform in an ARM processor
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Acceso Abierto
ID Minciencias: ART-0000415758-128
Ranking: ART-ART_D
Fuente: Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering/Proceedings of SPIE
JA Fernandez Gallego
S A Orjuela
Julio Cesar Garcia Alvarez
Wilfried Philips
Sergio Alejandro Orjuela Vargas
Tópico:
Industrial Vision Systems and Defect Detection
Publicado: 2012
Citaciones:
3
Altmétricas:
0
Artículo de revista
Optimizing feature extraction in image analysis using experimented designs: a case study evaluating texture algorithms for describing appearance retention in carpets
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Acceso Abierto
ID Minciencias: ART-0000415758-126
Ranking: ART-ART_D
Fuente: Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering/Proceedings of SPIE
S A Orjuela
Rolando Quiñones
Benhur Ortiz Jaramillo
Filip Rooms
Robain De Keyser
Wilfried Philips
Sergio Alejandro Orjuela Vargas
Tópico:
Color Science and Applications
Publicado: 2011
Citaciones:
2
Altmétricas:
0
Artículo de revista
Selection of optimal texture algorithms for evaluating degradation of carpets through experimental design
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Acceso Cerrado
ID Minciencias: ART-0000415758-64
Ranking: ART-ART_A2
Fuente: Journal of Electronic Imaging
S A Orjuela
Benhur Ortiz Jaramillo
Ewout Vansteenkiste
lieva van langenhove
Robain De Keyser
Wilfried Philips
Sergio Alejandro Orjuela Vargas
Tópico:
Industrial Vision Systems and Defect Detection
Publicado: 2013
Citaciones:
1
Altmétricas:
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Artículo de revista
1
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