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Electrical characterization of in-house fabricated polysilicon micro-gap for yeast concentration measurement
Acceso Cerrado
Fuente: Journal Of Engineering And Technology, Facultad De Ingenierías - Corporación Universitaria Lasallista.
Th S Dhahi
uda hashim
naser ahmed
Md Eaqub Ali
T Nazwa
Temas:
Materials science
Fabrication
Wafer
Optoelectronics
Characterization (materials science)
Photolithography
Electrode
Nanotechnology
Capacitance
Band gap
Chemistry
Medicine
Alternative medicine
Physical chemistry
Pathology
Publicado: 2011
Citaciones:
7
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