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Hecho en Colombia
Robert E Kirby
Royal Military College
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Oxygen detection in thin silicon dioxide layers by low-energy x-ray fluorescence spectrometry
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Acceso Cerrado
Fuente: Journal of Vacuum Science & Technology A Vacuum Surfaces and Films
Robert E Kirby
David C Wherry
Michael Madden
Tópico:
X-ray Spectroscopy and Fluorescence Analysis
Publicado: 1993
Citaciones:
3
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Artículo de revista
1
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