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Wu Heng
Instituto de Tecnología de Harbin
State Key Laboratory of Robotics and Systems
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On the Generation of Functional Test Programs for the Cache Replacement Logic
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Acceso Cerrado
ID Minciencias: CAP_LIB-0000233579-58
Ranking: CAP_LIB-GC_CAP_LIB
Fuente: Asian Test Symposium
Wu Heng
Danilo Ravotto
ERNESTO SANCHEZ
Matteo Sonza Reorda
Alberto Tonda
Wilson Javier Perez Holguin
Tópico:
VLSI and Analog Circuit Testing
Publicado: 2009
Citaciones:
8
Altmétricas:
0
Publicaciones editoriales no especializadas
Software-Based Self-Test Strategy for Data Cache Memories Embedded in SoCs
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Acceso Cerrado
ID Minciencias: CAP_LIB-0000233579-59
Ranking: CAP_LIB-GC_CAP_LIB
Wu Heng
JAIME VELASCO MEDINA
Danilo Ravotto
ERNESTO SANCHEZ
Matteo Sonza Reorda
Wilson Javier Perez Holguin
Tópico:
VLSI and Analog Circuit Testing
Publicado: 2008
Citaciones:
8
Altmétricas:
0
Publicaciones editoriales no especializadas
Functional test generation for DMA controllers
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Acceso Cerrado
ID Minciencias: CAP_LIB-0000233579-57
Ranking: CAP_LIB-GC_CAP_LIB
Michelangelo Grosso
Wu Heng
Danilo Ravotto
ERNESTO SANCHEZ
Matteo Sonza Reorda
JAIME VELASCO MEDINA
Wilson Javier Perez Holguin
Tópico:
VLSI and Analog Circuit Testing
Publicado: 2010
Citaciones:
5
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Publicaciones editoriales no especializadas
1
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