Autor
Cargando información...
Fundadores:
Producto desarrollado por:
@colav
Contacto
ImpactU:
Acerca de ImpactU
Manual de usuario
Código Abierto
Datos Abiertos
Apidocs
Estadísticas de uso
Indicadores de Cooperación
Información:
ImpactU Versión 3.11.2
Última actualización:
Interfaz de Usuario: 16/10/2025
Base de Datos: 29/08/2025
Hecho en Colombia
Estiven Sanchez Barrera
Tecnología, Información y Complejidad Cuántica (QuanTIC)
Universidad del Valle
Universidad Tecnológica de Bolívar
Perfil externo:
Citaciones:
50
Productos:
22
Filtros
Investigación
Cooperación
Productos
Patentes
Proyectos
Noticias
i
Coautorías según país de afiliación
Cargando información...
i
Evolución anual según la clasificación del ScienTI (Top 20)
Cargando información...
Cargando información...
22 Productos
Más citado
CSV
API
Multiple-aperture one-shot shearography for simultaneous measurements in three shearing directions
Ver producto
Acceso Cerrado
Fuente: Optics and Lasers in Engineering
Estiven Sanchez Barrera
Analucia Vieira Fantin
Daniel Pedro Willemann
Mauro Eduardo Benedet
Armando Albertazzi Gonçalves
Tópico:
Optical measurement and interference techniques
Publicado: 2018
Citaciones:
34
Altmétricas:
0
Artículo de revista
Impact damage characterization in CFRP plates using PCA and MEEMD decomposition methods in optical lock-in thermography phase images
Ver producto
Acceso Cerrado
ID Minciencias: ART-0001445392-14
Ranking: ART-GC_ART
Fuente: Optical Measurement Systems for Industrial Inspection XI
Bernardo Cassimiro Fonseca de Oliveira
Herberth Birck Fröhlich
Estiven Sanchez Barrera
Crhistian R Baldo
Armando Albertazzi Gonçalves
Robert Schmitt
Tópico:
Thermography and Photoacoustic Techniques
Publicado: 2019
Citaciones:
5
Altmétricas:
0
Publicaciones editoriales no especializadas
Analysis of a shearography device using a Wollaston prism and polarization phase shifting
Ver producto
Acceso Cerrado
Fuente: Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering/Proceedings of SPIE
Estiven Sanchez Barrera
Mauro Eduardo Benedet
Daniel Pedro Willemann
Analucia Vieira Fantin
Armando G Albertazzi
Tópico:
Optical measurement and interference techniques
Publicado: 2016
Citaciones:
3
Altmétricas:
0
Artículo de revista
Diameter quantification of through holes in pipelines hidden by protective layers of composite materials using instantaneous shearography simultaneously in three shearing directions
Ver producto
Acceso Cerrado
ID Minciencias: ART-0001445392-13
Ranking: ART-GC_ART
Fuente: Optical Measurement Systems for Industrial Inspection XI
Tiago de Bortoli
Analucia Vieira Fantin
Estiven Sanchez Barrera
Mauro Eduardo Benedet
Daniel Pedro Willemann
Armando Albertazzi Gonçalves
Tópico:
Optical measurement and interference techniques
Publicado: 2019
Citaciones:
2
Altmétricas:
0
Publicaciones editoriales no especializadas
Land cover classification of Andean sub-basins in Colombia based on Sentinel-2 satellite images and deep learning
Ver producto
Acceso Cerrado
Darwin Alexis Arrechea Castillo
Yady Tatiana Solano Correa
Julián Muñoz Ordóñez
Yineth Viviana Camacho De Angulo
Estiven Sanchez Barrera
Apolinar Figueroa Casas
Leonairo Pencue Fierro
Tópico:
Environmental and Ecological Studies
Publicado: 2023
Citaciones:
2
Altmétricas:
0
Artículo de revista
Speckle Interferometry in harsh environments: design considerations and successful examples
Ver producto
Acceso Cerrado
Fábio Silva
M Benedete
Armando Albertazzi Gonçalves
Celso Veiga
Estiven Sanchez Barrera
Analucia Vieira Fantin
Daniel Pedro Willemann
Matias Viotti
Tópico:
Optical measurement and interference techniques
Publicado: 2018
Citaciones:
1
Altmétricas:
0
Artículo de revista
A single shot shearography device for simultaneous measurement in three shearing directions
Ver producto
Acceso Cerrado
Armando Albertazzi Gonçalves
Estiven Sanchez Barrera
Analucia Vieira Fantin
Mauro Eduardo Benedet
Daniel Pedro Willemann
Tópico:
Optical measurement and interference techniques
Publicado: 2018
Citaciones:
1
Altmétricas:
0
Artículo de revista
A robust integration algorithm for out-of-plane displacement field measurements applied to multiple images of shearography
Ver producto
Acceso Cerrado
ID Minciencias: ART-0001445392-12
Ranking: ART-GC_ART
Fuente: Optical Measurement Systems for Industrial Inspection XI
Estiven Sanchez Barrera
Analucia Vieira Fantin
Daniel Pedro Willemann
Mauro Eduardo Benedet
Armando Albertazzi Gonçalves
Tópico:
Optical measurement and interference techniques
Publicado: 2019
Citaciones:
1
Altmétricas:
0
Publicaciones editoriales no especializadas
Measuring material thickness changes through tri-aperture digital speckle pattern interferometry
Ver producto
Acceso Cerrado
Fuente: Optical Engineering
Estiven Sanchez Barrera
JOAO LUIS EALO CUELLO
Tópico:
Optical measurement and interference techniques
Publicado: 2023
Citaciones:
1
Altmétricas:
0
Artículo de revista
Comparison of principal component analysis and multi-dimensional ensemble empirical mode decomposition for impact damage segmentation in square pulse shearography phase images
Ver producto
Acceso Cerrado
Herberth Birck Fröhlich
Bernardo Cassimiro Fonseca de Oliveira
Estiven Sanchez Barrera
Tiago de Bortoli
Armando Albertazzi Gonçalves
Tópico:
Ultrasonics and Acoustic Wave Propagation
Publicado: 2020
Citaciones:
0
Altmétricas:
0
Artículo de revista
1
NaN
NaN / pág.
