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Sinan Haliyo
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Gentle and fast atomic force microscopy with a piezoelectric scanning probe for nanorobotics applications
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Acceso Cerrado
Fuente: Nanotechnology
Juan Camilo Acosta Mejía
Jérôme Polesel Maris
François Thoyer
Hui Xie
Sinan Haliyo
Stéphane Regnier
Thoyer François
Tópico:
Force Microscopy Techniques and Applications
Publicado: 2013
Citaciones:
11
Altmétricas:
0
Artículo de revista
Gentle and fast atomic force microscopy with piezoelectric scanning probe for nanorobotics applications
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Acceso Abierto
ID Minciencias: ART-0001476299-11
Ranking: ART-ART_A1
Fuente: HAL (Le Centre pour la Communication Scientifique Directe)
Juan Camilo Acosta Mejía
Jérôme Polesel Maris
Frédéric Thoyer
Hui Xie
Sinan Haliyo
Stéphane Regnier
Juan Camilo Acosta Mejía
Tópico:
Force Microscopy Techniques and Applications
Publicado: 2013
Citaciones:
0
Artículo de revista
1
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