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Juan Jesús Jiménez
Universidad de Cádiz
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Optical Characterization of GaAs/Si Layers Grown by the Conformal Method (Confined Lateral Epitaxial Growth)
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Fuente: Journal of materials research/Pratt's guide to venture capital sources
Angel Miguel Ardila Vargas
Oscar Martínez
Manuel Avella
Juan Jesús Jiménez
E Gil Lafon
B Gérard
Tópico:
Semiconductor Quantum Structures and Devices
Publicado: 2002
Citaciones:
6
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Artículo de revista
1
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