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Dong Liu
Bengbu Medical College
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Reliability challenges for GaN-based FETs
Acceso Cerrado
Fuente: Extended Abstracts of the 2020 International Conference on Solid State Devices and Materials
M Kuball
Michael Uren
James Pomeroy
Serge Karboyan
Indranil Chatterjee
Dong Liu
Julian Anaya
Tommaso Brazzini
Temas:
Materials science
Reliability (semiconductor)
Reliability engineering
Optoelectronics
Engineering physics
Engineering
Physics
Power (physics)
Quantum mechanics
Publicado: 2016
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