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William Meeker
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A Review of Accelerated Test Models
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Acceso Abierto
ID Minciencias: ART-0001097792-25
Ranking: ART-ART_A1
Fuente: Statistical Science
Luis Alberto Escobar Restrepo
William Meeker
Luis Alberto Escobar Restrepo
Tópico:
Reliability and Maintenance Optimization
Publicado: 2006
Citaciones:
514
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Artículo de revista
Using Accelerated Life Tests Results to Predict Product Field Reliability
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Acceso Abierto
ID Minciencias: ART-0001097792-85
Ranking: ART-ART_A1
Fuente: Technometrics
William Meeker
Luis Alberto Escobar Restrepo
Yili Hong
Luis Alberto Escobar Restrepo
Tópico:
Reliability and Maintenance Optimization
Publicado: 2009
Citaciones:
79
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Artículo de revista
Accelerated Destructive Degradation Test Planning
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Acceso Abierto
ID Minciencias: ART-0001097792-84
Ranking: ART-ART_A1
Fuente: Technometrics
Ying Shi
Luis Alberto Escobar Restrepo
William Meeker
Luis Alberto Escobar Restrepo
Tópico:
Probabilistic and Robust Engineering Design
Publicado: 2009
Citaciones:
76
Altmétricas:
0
Artículo de revista
Methods for Planning Repeated Measures Degradation Studies
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Acceso Abierto
ID Minciencias: ART-0001097792-113
Ranking: ART-ART_A1
Fuente: Technometrics
Brian Weaver
William Meeker
Luis Alberto Escobar Restrepo
Joanne Wendelberger
Luis Alberto Escobar Restrepo
Tópico:
Reliability and Maintenance Optimization
Publicado: 2012
Citaciones:
51
Altmétricas:
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Artículo de revista
The Relationship Between Confidence Intervals for Failure Probabilities and Life Time Quantiles
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Acceso Abierto
ID Minciencias: ART-0001097792-27
Ranking: ART-ART_A2
Fuente: IEEE Transactions on Reliability
Yili Hong
William Meeker
Luis Alberto Escobar Restrepo
Luis Alberto Escobar Restrepo
Tópico:
Statistical Distribution Estimation and Applications
Publicado: 2008
Citaciones:
16
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Avoiding Problems With Normal Approximation Confidence Intervals for Probabilities
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Acceso Cerrado
ID Minciencias: ART-0001097792-26
Ranking: ART-ART_A2
Fuente: Technometrics
Yili Hong
William Meeker
Luis Alberto Escobar Restrepo
Luis Alberto Escobar Restrepo
Tópico:
Statistics Education and Methodologies
Publicado: 2008
Citaciones:
15
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Artículo de revista
Simultaneous confidence bands and regions for log-location-scale distributions with censored data
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Acceso Cerrado
ID Minciencias: ART-0001097792-86
Ranking: ART-ART_A2
Fuente: Journal of Statistical Planning and Inference
Luis Alberto Escobar Restrepo
Yili Hong
William Meeker
Luis Alberto Escobar Restrepo
Tópico:
Statistical Distribution Estimation and Applications
Publicado: 2009
Citaciones:
6
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Coverage probabilities of simultaneous confidence bands and regions for log-location-scale distributions
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Acceso Abierto
ID Minciencias: ART-0001097792-88
Ranking: ART-ART_B
Fuente: Statistics & Probability Letters
Yili Hong
Luis Alberto Escobar Restrepo
William Meeker
Luis Alberto Escobar Restrepo
Tópico:
Statistical Distribution Estimation and Applications
Publicado: 2010
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