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Hecho en Colombia
Kyung Kim
Universidad de Nueva Gales del Sur
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84
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Carrier-Induced Degradation in Multicrystalline Silicon: Dependence on the Silicon Nitride Passivation Layer and Hydrogen Released During Firing
Acceso Cerrado
Fuente: IEEE Journal of Photovoltaics
Carlos Andres Vargas Castrillon
Kyung Kim
Gianluca Coletti
David Payne
Catherine Chan
Stuart Wenham
Ziv Hameiri
Temas:
Passivation
Degradation (telecommunications)
Materials science
Silicon nitride
Silicon
Wafer
Carrier lifetime
Hydrogen
Layer (electronics)
Optoelectronics
Composite material
Electronic engineering
Chemistry
Organic chemistry
Engineering
Publicado: 2018
Citaciones:
84
Altmétricas:
0
Artículo de revista
1
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