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Mauro Eduardo Benedet
Universidad Federal de Santa Catarina
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Multiple-aperture one-shot shearography for simultaneous measurements in three shearing directions
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Acceso Cerrado
Fuente: Optics and Lasers in Engineering
Estiven Sanchez Barrera
Analucia Vieira Fantin
Daniel Pedro Willemann
Mauro Eduardo Benedet
Armando Albertazzi Gonçalves
Tópico:
Optical measurement and interference techniques
Publicado: 2018
Citaciones:
34
Altmétricas:
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Artículo de revista
Analysis of a shearography device using a Wollaston prism and polarization phase shifting
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Acceso Cerrado
Fuente: Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering/Proceedings of SPIE
Estiven Sanchez Barrera
Mauro Eduardo Benedet
Daniel Pedro Willemann
Analucia Vieira Fantin
Armando G Albertazzi
Tópico:
Optical measurement and interference techniques
Publicado: 2016
Citaciones:
3
Altmétricas:
0
Artículo de revista
Diameter quantification of through holes in pipelines hidden by protective layers of composite materials using instantaneous shearography simultaneously in three shearing directions
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Acceso Cerrado
ID Minciencias: ART-0001445392-13
Ranking: ART-GC_ART
Fuente: Optical Measurement Systems for Industrial Inspection XI
Tiago de Bortoli
Analucia Vieira Fantin
Estiven Sanchez Barrera
Mauro Eduardo Benedet
Daniel Pedro Willemann
Armando Albertazzi Gonçalves
Tópico:
Optical measurement and interference techniques
Publicado: 2019
Citaciones:
2
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0
Publicaciones editoriales no especializadas
A single shot shearography device for simultaneous measurement in three shearing directions
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Acceso Cerrado
Armando Albertazzi Gonçalves
Estiven Sanchez Barrera
Analucia Vieira Fantin
Mauro Eduardo Benedet
Daniel Pedro Willemann
Tópico:
Optical measurement and interference techniques
Publicado: 2018
Citaciones:
1
Altmétricas:
0
Artículo de revista
A robust integration algorithm for out-of-plane displacement field measurements applied to multiple images of shearography
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Acceso Cerrado
ID Minciencias: ART-0001445392-12
Ranking: ART-GC_ART
Fuente: Optical Measurement Systems for Industrial Inspection XI
Estiven Sanchez Barrera
Analucia Vieira Fantin
Daniel Pedro Willemann
Mauro Eduardo Benedet
Armando Albertazzi Gonçalves
Tópico:
Optical measurement and interference techniques
Publicado: 2019
Citaciones:
1
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Publicaciones editoriales no especializadas
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