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Gianluca Coletti
Netherlands Energy Research Foundation
Universidad de Nueva Gales del Sur
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Carrier-Induced Degradation in Multicrystalline Silicon: Dependence on the Silicon Nitride Passivation Layer and Hydrogen Released During Firing
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Recombination parameters of lifetime-limiting carrier-induced defects in multicrystalline silicon for solar cells
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On the impact of dark annealing and room temperature illumination on p-type multicrystalline silicon wafers
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Degradation and Recovery of n-Type Multi-Crystalline Silicon Under Illuminated and Dark Annealing Conditions at Moderate Temperatures
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Fuente: IEEE Journal of Photovoltaics
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Publicado: 2019
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