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Hecho en Colombia

Computer Aided Ellipsometry Applied to Thin Films

Acceso Cerrado

Idioma: Inglés

Publicado: 01/01/1992

APC (est): No disponible

Abstract no disponible

Optical Polarization and Ellipsometry

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FuenteSpringer proceedings in physics	Cuartil año de publicaciónNo disponible	VolumenNo disponible
IssueNo disponible	Páginas305 - 306	pISSNNo disponible
ISSN1867-4941	Perfil OpenAlexhttps://openalex.org/S4210168317

Openalex URL	https://openalex.org/W247902687	Doi URL	https://doi.org/10.1007/978-3-642-76376-2_44

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