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X-ray diffraction, Raman spectrum and magnetic susceptibility of the magnetic semiconductor Cu2FeSnS4

Acceso Cerrado

ID Minciencias: ART-0000009172-19421

Ranking: ART-ART_A1

Idioma: Inglés

Publicado: 19/04/2011

APC (est): No disponible

Abstract no disponible

Chalcogenide Semiconductor Thin Films

FuenteSolid State Communications	Cuartil año de publicaciónNo disponible	Volumen151
Issue13	Páginas947 - 951	pISSNNo disponible
ISSN0038-1098	Perfil OpenAlexhttps://openalex.org/S82088436

Scienti ID	0000688495-16	Scienti ID	0000009172-19421	Minciencias ID	ART-0000009172-19421
Openalex URL	https://openalex.org/W2013713257	Doi URL	https://doi.org/10.1016/j.ssc.2011.04.002	Pdf URL	https://www.researchgate.net/profile/Carlos-Rincon-9/publication/236987029_X-ray_diffraction_Raman_spectrum_and_magnetic_susceptibility_of_the_magnetic_semiconductor_Cu2FeSnS4/links/5b0717ec0f7e9b1ed7ee47bc/X-ray-diffraction-Raman-spectrum-and-magnetic-susceptibility-of-the-magnetic-semiconductor-Cu2FeSnS4.pdf
Scholar URL	https://scholar.google.com/scholar?hl=en&as_sdt=0%2C5&q=info%3A_R32JuUOLAQJ%3Ascholar.google.com&btnG=	Scholar citations URL	https://scholar.google.com/scholar?cites=300631652490943997&as_sdt=2005&sciodt=0,5&hl=en

Artículo de revista